Toho-Tec NanoSpec6500系列光學膜厚計

更新時間：2026-04-14

瀏覽次數：69

NanoSpec6500系列是Toho-Tec從Nanometrics公司2005年起承接技術轉移并制造銷售的FPD（平板顯示）專用光學膜厚測量設備。該系列在全球主要液晶生產工廠擁有超過100臺的導入實績，是FPD行業膜厚測量的標準設備

光干涉反射率測量法

光譜橢偏儀（SE）擴展

發.png

軟件功能特點

NanoSpec軟件

用戶友好的操作界面

支持各種Recipe設定、測量參數設定、數據管理

可選功能擴展： sheet resistance測量、接觸角測量、段差測量

膜厚分布顯示

從測量數據生成膜厚分布圖

面內狀態可視化，膜厚差異以色階顯示

3D Mapping

從測量數據創建3D立體圖像

支持360度旋轉查看

可確認任意點的高度信息

抓抓.png

Toho-Tec定制服務

全流程自主制造：從設計到制造、電氣設計、CIM通信設計均在自社完成

靈活定制：可根據客戶需求進行硬件和軟件定制

專業應用支持：經驗豐富的應用工程師提供高精度Recipe作成和驗證服務

應用領域

FPD/LCD生產線：TFT-LCD、OLED的各層薄膜厚度監控

半導體制造：鈍化膜、柵極絕緣膜測量

LED制造：外延層厚度控制

太陽能電池：透明導電膜、減反射膜測量

材料研究：光學常數測定、新材料特性評估

返回列表

全网最全欧美影视资源&大战刚结婚少妇看她社区&91精品国产91久久综合牛牛&花姐影视&中文字幕性爱视频&做爰丰满少妇1313